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武汉铄思百检测技术有限公司
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仪器名称：单晶X射线分析仪型号：日本理学XtalAB检测项目：晶体结构数据采集，晶体结构分析，晶胞参数，高温，常温性能指标：1.标准晶体结构测定数据还原结果：残差因子≤5%2.标准晶体结构解析结果：≤0.05应用范围：X射线单晶衍射仪用以测定一个新化合物(晶态)分子的准确三维空间,包括键长、键角、构型、构像、成键电子密度及分子在晶格中的实际排布状况
仪器名称： | 单晶X射线分析仪 | 型号： | 日本理学XtalAB |
检测项目： | 晶体结构数据采集，晶体结构分析，晶胞参数， 高温，常温 | ||
性能指标： | 1.标准晶体结构测定数据还原结果：残差因子 ≤5% 2. 标准晶体结构解析结果：≤0.05 | ||
应用范围： | X射线单晶衍射仪用以测定一个新化合物(晶态)分子的准确三维空间, 包括键长、键角、构型、构像、成键电子密度及分子在晶格中的实际排布状况。该仪器用于化学、药物学、物理学、分子生物学和材料科学等方面的研究，用于中小分子直至大分子晶体的分子结构分析、构型测定和精密电子密度测定。 | ||
制样要求 | 样品必须是单晶 | ||
PS：送样请附带“委托测试单"。
测试提示：
1.可开正规测试发票，附带测试清单。
2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；
3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；
4.测试人员与顾客通过或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或记录将作为重要的仲裁依据；请加和技术人员交流：。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。
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