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堀场仪器(上海)有限公司
光掩模(Reticle/Mask)颗粒探测系统PR-PD3
外形小巧、运营成本低、应用范围广
HORIBA的PD系列产品运转效率高,具有长期稳定性,受到众多半导体制造工厂的高度评价。继承了各个结构简单、长期稳定运转的搬运系统,高通过量、可靠性高的光学系统,以及具有防误测功能等高性能设备并巧妙组合成一个整体的产品就是PR-PD3。和以往的机型(PR-PD2)相比,它的外形尺寸小了约1/2,追求低运营成本。检测灵敏度达到0.5μm,具有广泛通用性。诞生了可以用来满足光掩模(reticle/mask)上异物检测这一广泛需求的简便装置。
检测对象 | 有(无)表膜光掩模(reticle/mask)上的微粒子 |
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测量原理 | 激光散射方式 |
可次粒径 | 约7分钟/2个面(在5英寸Reticle) 2个面检测(5英寸)从开始检测到显示数据约为7分钟 |
灵敏度 | 图案(Pattern)面:0.5μm、玻璃(Glass)面:5.0μm、表膜面(Pellicle):10.0μm(※PSL相当) |
光掩模盒 (请在订货时进行) | 制曝光装置盒(5、6英寸用) (标准配置:对应一种尺寸的Reticle) |
测量结果 | 对应数据显示于平面显示器 |
外观尺寸 | 约900(W)×1350(D)×1590(H) mm |
设
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