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埃登威自动化系统设备（上海）有限公司
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微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
日立XRF镀层测厚仪 FT100A
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 产品：微量氧分析仪,药品残氧仪,露点仪,热导气体分析仪,GE流量计,OX-1氧传感器,顶空分析仪,红外气体分析仪,高温湿度仪,西门子U23分析仪,ppb微量水分析仪,OXY.IQ氧分析仪,烟气湿度仪,燃气热值仪,Kaye温度验证仪,L&W白度,仪激光氧分析仪,压缩空气露点仪,干燥机露点仪,激光气体分析仪,便携式露点仪,便携式微量氧分析仪，Fei （维修中心，代表处，总代理，分公司，子公司，售后中心，销售中心，上海办，办事处在哪里）
PCB / PWB 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata和MAXXI系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。
结采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到zui终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和zui终产品，确保每个阶段的质量。
对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性，从而确保率。
与复杂的供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术，根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求，确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。
检验所用涂层的厚度和化学性质，以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度，预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
当目标是实现无瑕表面时，整个生产过程中的质量控制至关重要。通过牛津仪器的多种测试设备，您可以可靠地检测基材，中间层和顶层厚度。
在条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
凭借的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是测量zui薄涂层和痕量元素成分的理想仪器。MAXXI 6 具有多达6个主滤波器和8个准直器，能够处理挑战性的应用。巨大的开槽室设计是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。
X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置，以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘，可快速被配置，以搭配小或大零件（zui大6英寸）。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。
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