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杭州嘉维创新科技有限公司
纳米粒度分析仪:N4Plus是采用激光法测超细颗粒的仪器,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。
纳米粒度分析仪技术参数
1.测量范围: 3-3,000nm
2.测量时间:30-180秒
3.重现性: 优于3%CV
4.可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
5.精度: 2-5%
主要特点
1.是采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器
2.的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型
Zeta电位和分子量分析仪的技术参数
1、粒径测量
粒径范围: 0.3 nm - 10 μm *
浓度范围: 0.1ppm – 40% w/v *
检测角度: 175o 和 12.8o
最小样品量: 12 μl
2、Zeta电位测量
Zeta电位范围: 无实际限制
电泳迁移率: 0 – 无实际上限
样品电导率: 200mS/cm
样品浓度: 40% w/v
最小样品量: 150 μl
粒径范围: 3.8nm - 100 μm *
3、分子量测量
分子量范围 342 - 2 ×107 Da * (动态光散射)
980 - 2 ×107 Da * (静态光散射)
最小样品量 12 μl
* 取决于样品
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