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申贝科学仪器(苏州)有限公司
XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平• 采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求• 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/ 校准天平,确保称量结果始终准确• 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
梅特勒-托利多分析天平
XP105DR/205/205DR/204/504/504DR 分析天平
产品特征
• 采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求
• 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/
校准天平,确保称量结果始终准确
• 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
• 可拆卸,清洗的玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁
• 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件
称量、百分比称量、密度测量、差重称量
型号 | *大称量值(g) | 可读性(mg) | 重复性(sd)(mg) | 线性误差(mg) | 典型稳定时间(s) | 秤盘尺寸(W*D)(mm) |
XP105DR | 31/120 | 0.01/0.1 | 0.015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78*73 |
XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78*73 |
XP205DR | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78*73 |
XP204 | 220 | 0.1 | 0.07 | 0.2 | 1.5 | 78*73 |
XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78*73 |
XP504DR | 101/520 | 0.1/1 | 0.1/0.6 | 0.5 | 1.5 | 78*73 |
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