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珠海天创仪器有限公司
WH82铁铝基两用涂层测厚仪,铁基和铝基两用快速全自动转换(无须手动操作转换)。除单点校准、两点校准和恢复出厂设置功能外,还增加了自助标定修复功能;当仪器测头因长期磨损导致测试值误差超出正常范围时,用户可直接向仪器重新输入数据,修复仪器测头系统,恢复测量准确度,节约返厂时间及运输成本。
WH82铁铝基两用涂层测厚仪
产品介绍
WH82铁铝基两用涂层测厚仪,铁基和铝基两用快速全自动转换(无须手动操作转换)。除单点校准、两点校准和恢复出厂设置功能外,还增加了自助标定修复功能;当仪器测头因长期磨损导致测试值误差超出正常范围时,用户可直接向仪器重新输入数据,修复仪器测头系统,恢复测量准确度,节约返厂时间及运输成本。
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度,例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷等。
NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度,例如涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上的漆、塑料、瓷等。
WH82铁铝基两用涂层测厚仪测量原理
采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型测量头)
当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
b) 涡流法(N 型测量头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
WH82铁铝基两用涂层测厚仪技术参数
测量范围 | 0-1500um |
工作电源 | 两节 5 号电池 |
测量精度误差 | 零点校准 ±(1+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5 |
环境温度 | 0-40℃ |
相对湿度 | ≤85% |
小基体 | 10*10mm |
小曲率 | 凸:5mm;凹 :5mm |
薄基体 | 0.4mm |
重量 | 115 克(含电池) |
尺寸 | 102mm*66mm*24mm |
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