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天津特鲁斯科技有限公司
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微焦斑XRF光谱仪|FT,EA6000VX和X-Strata系列 微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据
微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al?到92U 的固体或液体样品。
X-Strata920
X-Strata920
正比计数器或高分辨率 SDD
元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（SDD）
样品舱设计：开槽式
XY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台
样品尺寸：270 x 500 x 150毫米
数量准直器：6
滤光片：1
小的准直器： x 毫米( x10 mil)
SmartLink 软件
FT110A
FT110A
正比计数器系统
元素范围：钛 - 铀
样品舱设计：开闭式或开槽式
XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
数量准直器：4
滤光片：初级 1，二级（可选）1
小的准直器： 毫米
X-ray Station 软件
EA6000VX
EA6000VX
高分辨率 SDD
元素范围： 镁 - 铀（使用氦气吹扫时钠 - 铀 ）
样品舱设计：开闭式
XY 轴样品台选择：自动台
样品尺寸：270 x 220 x 150 毫米
数量准直器：4
滤光片：6 种模式自动切换
小的准直器： 毫米
X-ray Station & Mapping Station 软件
FT150
FT150
高分辨率 SDD
元素范围： 铝 - 铀
样品舱设计：开闭式
XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台
样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
滤光片：1 或 3
毛细聚焦管 < 35 μm
XRF控制软件
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