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德国FISCHER XDLM 237 X射线荧光镀层测厚材料分析仪技术参数：
1、工作台：
设计：马达驱动可编程X/Y平台
移动范围：255x 235mm
X/Y平台移动速度：≤80 mm/s
X/Y平台移动重复精度：≤0.01 mm，单向
可用样品放置区域：300 x 350mm
Z轴：可编程运行
Z轴移动范围：140mm
样品:重量5kg，降低精度可达20kg
样品:高度140mm
2、环境要求：
使用时温度：10℃- 40℃
存储或运输温度：0℃ - 50℃
空气相对湿度：≤95%,无结露
3、计算单元：
计算机：带扩展卡的计算机系统
软件：标准:WinFTM V.6 LIGHT、可选:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER
4、执行标准：
CE合格标准：EN 61010
X射线标准：DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批准：型式许可符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规规定。
5、通用规格：
设计用途：能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF)用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围：从元素氯(17)到铀(92)，配有可选的WinFTM BASIC软件时，可同时测定24种元素。
形式设计：台式仪器，测量门向上开启
测量方向：从上到下
6、X射线探测：
X射线接收器：比例接收器
测量距离：0 ~ 80mm，使用专有保护的DCM测量距离补偿法
7、视频系统：
视频系统：
CCD彩色摄像头，沿着初级×射线光束方向观察测量位置对被测工件进行监控，可自动对焦或手动聚焦
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品
放大倍数：40x-160x
8、电气参数：
电源要求：交流220v 50Hz
功率：120W(不包括计算机)
保护等级：IP40
9、尺寸规格：
外部尺寸：宽×深×高[mm]:570 x760 x 650
内部测量室尺寸：宽×深×高[mm]: 460 x 495 x 146
重量：120kg
