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上海伊丰精密仪器有限公司
菲希尔Fischer XDL/XDLM/XDAL台式X射线荧光涂层测厚仪 凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择.适合的 X 射线仪器。
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