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显微荧光寿命成像系统FLIM

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更新时间:2022-10-13 15:12:01浏览次数:191次

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产品简介

显微荧光寿命成像系统FLIM

详细介绍

产品概述

 

 FLIM  基于时域测量方法的显微荧光寿命成像系统
 

 配置参数

皮秒脉冲激光器:

可选波长:375nm、405nm、450nm、488nm、510nm、635nm、660nm、670nm、785nm、810nm、850nm、900nm、976nm;

制冷型紫外-可见PMT:

光谱范围:185-900nm(可扩展);

时间相关单光子计数系统(TCSPC):

时间分辨率:16/32/48/64/128/256/512/1024ps, 死时间50ns,*高65535 个直方图时间窗口;

电动位移台:

高精度电动XY 样品台,行程:75*50mm(120*80mm 可选),*小步进:10nm,重复定位精度< 1um;

科研级正置显微镜:

落射明暗场卤素灯照明,12V,100W; 落射汞灯光源,用于荧光成像激发;

荧光成像相机;

明场用物镜:10×,50×,100×;

OmniFluo-FM专用软件:

控制功能:集成控制平移台和数据采集设备得到样品空间点的瞬态衰减曲线;获取样品明场光学成像;

处理功能:荧光寿命自动拟合(*高四指数拟合); 不同组分荧光寿命成像,振幅成像;逐点数据显示;

 

 测试案例





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