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M-3手持式四探针测试仪

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更新时间：2023-06-30 16:05:12浏览次数：145次

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沈阳科晶自动化设备有限公司

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产品简介

M-3手持式四探针测试仪

详细介绍

M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

操作视频

产品型号

M-3手持式四探针电阻率测试仪

主要特点

1、测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成

2、手持式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准

3、宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程

4、操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示

5、多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试

技术参数

1、工作电源

208-240V，50/60Hz；电池供电：DC3.7V

2、测量范围、分辨率

电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω

电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm

方块电阻：0.050～100.00kΩ/m² 分辨率0.001～10Ω/m²

3、基本误差：±1%FSB±2LSB

4、外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H

5、净重：0.3kg

可选配件

1探头

根据不同材料特性需要，探头可有多款选配

碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料（详见图1）；球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层（详见图2）；探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差（详见图3）。