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TXRF全反射X射线荧光光谱仪

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产品型号S4 TSTAR

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更新时间：2023-05-16 07:38:46浏览次数：83次

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铂悦仪器（上海）有限公司

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产品简介

产品描述：X射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。

详细介绍

S4 TStar — TXRF的明星
数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成为原子吸收光谱法（AAS）以及电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）或质谱法（ICP-MS）的理想的替代性方法。现在，S4 TStar 在台式TXRF 光谱仪的性能、自控和质量方面开创了新的标准。

优异的样品通用性
S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。

ICP 只能分析溶解的液体样品。

图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析
图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究
图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片
图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层
定制的反射介质