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P-7 台阶仪/探针式轮廓仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量

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产品型号P-7

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更新时间：2023-07-06 15:27:08浏览次数：384次

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产品简介

探针式轮廓仪/台阶仪/P-7StylusProfilerP-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境

详细介绍

探针式轮廓仪 / 台阶仪 / P-7 Stylus Profiler
P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

产品描述
P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

主要功能
台阶高度：几纳米至1000μm

微力恒力控制：至50mg

样品全直径扫描，无需图像拼接

视频：500万像素高分辨率彩色摄像机

圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差

软件：简单易用的软件界面

生产能力：通过测序，模式识别和SECS / GEM实现全自动化

主要应用
台阶高度：2D和3D台阶高度

纹理：2D和3D粗糙度和波纹度

形状：2D和3D翘曲和形状

应力：2D和3D薄膜应力

缺陷复检：2D和3D缺陷表面形貌