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卡迪诺科技(北京)有限公司


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F14 反宇宙射线超低本底HPGeγ谱仪

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更新时间:2024-03-09 17:29:17浏览次数:32次

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产品简介

测量各种类型环境样品的γ能谱,以确定放射性种类、核素及放射性水平。尤其是分析比活度低于1Bq/kg的样品,测量级联γ放射性核素,提高测量精度和缩短检测周期。

详细介绍

系统采用物质屏蔽与反符合技术联合降低环境γ辐射和宇宙射线本底,50keV~2000keV积分本底采用反符合后降低10倍以上,同时具有极低的天然核素γ射线峰本底,较通常物质屏蔽的低本底HPGeγ谱仪探测灵敏度显著提高。此系统的检测限可达10-1Bq/kg以下。反符合电子学线路,简单易调试

系统采用物质屏蔽与反符合技术联合降低环境γ辐射和宇宙射线本底,50keV~2000keV积分本底采用反符合后降低10倍以上,同时具有极低的天然核素γ射线峰本底,较通常物质屏蔽的低本底HPGeγ谱仪探测灵敏度显著提高。此系统的检测限可达10-1Bq/kg以下。反符合电子学线路,简单易调试

测量各种类型环境样品的γ能谱,以确定放射性种类、核素及放射性水平。尤其是分析比活度低于1Bq/kg的样品,测量级联γ放射性核素,提高测量精度和缩短检测周期

高纯锗探测器

晶体类型与尺寸:P型同轴优化高纯锗,晶体直径92mm,厚度81 mm(适合马林杯样品的测量)

能量分辨率FWHM:5.9 keV峰(Fe-55):≤ 1.1 keV

122 keV峰(Co-57):≤ 1.3k eV

1.332 MeV峰(Co-60):≤ 2.3 keV

相对探测效率:≥150% 120% 130% 140% 175%(可选)

能量响应范围:3Kev – 10 Mev

峰康比:901

峰形参数:FW0.1M/FWHM 2.0

FW.02M/FWHM 3.1

端窗超低本底材料封装,超低本底铜端盖配合Be窗,直径108 mm

冷指结构:HJ型冷指,液氮制冷,低本底材料封装,碳端窗

积分本底:(50keV~2000keV):0.25s-1 (HPGe相对效率99%)。

γ射线峰本底计数率(HPGe相对效率99%):

63.5 keV ≤0.5×10-3 s-1

351.9keV ≤0.1×10-3 s-1

511.0keV ≤1.0×10-3 s-1

583.2keV ≤0.1×10-3 s-1

1332 keV ≤0.5×10-3 s-1

1460.8keV ≤0.5×10-3 s-1

反宇宙射线屏蔽探测器:

大体积井型塑料闪烁探测器,有效包围内层物质屏蔽和HPGe探测器,对宇宙射线中的μ子等成份具有的探测效率。

超低本底铅室:

超低本底210Pb 比活度电解铅+无氧铜多层结构物质屏蔽体,有效铅屏蔽厚度达18cm带有通气孔,可为测量室通入氮气,进一步降低系统本底反符合电子学线路,简单易调试

液氮装置:

J型冷指CFG-HJ-108;

冷指延长棒CRE-1

30升杜瓦瓶DWR-30

数字化谱仪(DSPEC-50):

² 电子学类型:一体化数字电子学

² 道数:64K道及以上

² -数据通过率:大于100kcps(低频抑制器LFR关闭);大于34kcps(低频抑制器LFR开启);

² 具有自动化、自动极零(auto-PZ)、零死时间校正(ZDT)和虚拟示波器等功能

² 具有多道分析和多路(谱)定标功能

² 彩色液晶屏显示,能随时显示探测器高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息

² 系统变换增益(存储器分段):由计算机选择从512到32K

² 积分非线性 £±0.025%;微分非线性 £±1%

² 数字化稳谱器:由计算机控制并稳定增益和零点;

² 增益范围*1.6~*380;增益衰减功能,增益可缩小4倍

² 温度系数: 增益:<35ppm>°C ;零点:<3>°C

² 脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns

² 积分非线性≤0.025%;微分非线性≤1%;

² 数字化稳谱器:由计算机控制并稳定增益和零点;

² 脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns

解谱软件GammaVision(A66-B32C)

中文伽玛谱控制与分析软件包,在Windows10、Windows7和WindowsXP系统上运行,可以自动或手工操作进行剥谱,以正确地对多核素间干扰进行校正;

用户控制选定多种预置条件:MDA,统计测量,活时间,实时间,峰面积及谱计数率等;对峰核素加标识,以供操作员控制,求平均活度,选择性活度报告及MDA报告;安装次数不受限制。

中文平台无源效率刻度软件(GammaClib)

基于Monte Carlo 方法对探测器进行表征,适于在实验室对水泥、矿石、钢铁、气体、土壤、树脂等样品在70keV至7MeV能段内进行无源效率曲线刻度,要求具有的CAD建模能力。

探测器原厂表征及原厂无源效率刻度软件

“效率转换"(efficiency transfer)方法推演其它柱体状(体源)、平面状(面源)或马林杯样品源等形式样品的效率刻度曲线;

软件的精度:测量误差除方法本身外,还取决于刻度效率曲线所用点源本身的误差,和各项参数(探测器/样品盒/样品)的准确性,误差水平在3%至4%左右;

方法的可溯源性:如基准效率曲线所用的刻度源为可溯源,则此方法下获得的测量结果亦可溯源。可在出厂时提供具体探测器(系统)的点源效率曲线;

用户可定期在实验室完成探测器的表征,无需返厂,保证探测器在长时间使用发生状态变化后,刻度的准确性

低本底铅室(HPLBS2,适用于HJ型探测器和冷指):

-系统本底:小于2cps(40keV-2MeV)

-铅室内腔尺寸:28cm直径×40cm高

-铅室主体由外到内的构造:9.5mm低碳钢外衬、101mm老铅、0.5mm锡和1.6mm软铜内衬

-铅室主体外形尺寸:51cm直径×63cm高

-铅室支架尺寸:61cm长×61cm宽×77cm高

-净重量:1134Kg

系统应适应的外部条件

-温度:5~30℃;

-相对湿度:小于80%;

-系统重量:5吨左右;

-三相交流200~240V, 50Hz,可靠接地


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