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东谱科技（广州）有限责任公司
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针尖增强拉曼散射(TERS)方法是基于拉曼、表面增强拉曼散射（SERS）以及AFM的联用
针尖增强拉曼散射 (TERS) 方法是基于拉曼、表面增强拉曼散射（SERS）以及AFM的联用。利用纳米尺度的胶体颗粒或粗糙金属衬底的表面等离子体共振，SERS可以探测到百万分之一（ppm）数量级的化学样品，因而长期以来一直被用于增强微弱的拉曼信号。
TERS的增强原理和SERS相同，但是TERS是使用金属包覆的AFM针尖作为触角来增强与针尖接触区域样品的拉曼信号。由于AFM针尖是纳米尺度的，所以可以获得纳米尺度范围的局域增强。通过区分TERS和常规拉曼散射（针尖离开样品），可以获得直径<>区域内的拉曼信息。LabRAM 纳米拉曼平台与的AFM联用，再加上拉曼专业技术，可以放心地进行TERS探索性实验。
TERS已经应用于很多不同的领域，它突破了共焦拉曼仪器以前所受到的微米级别光学衍射极限限制，开启了显微分析和成像的新局面。
碳纳米管的共点拉曼和AFM成像
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快速共焦拉曼成像可以轻易地从其他类型碳中找到单根的碳纳米管，而AFM可提供形貌及其他物理参数（例如电导率或热能信息）。上图中采集的区域为10um×10um，拉曼成像的步长为250nm。
底部的拉曼光谱图显示了碳材料的D峰和G峰，从谱图上可以很清楚地看出高质量纳米管（红）和无序材料（绿）间的差异。 |
原子力显微镜系统应用于生物、半导体和纳米材料时，对于不同的应用会对仪器的性能有一些不同的要求或需要进行一些优化。
HORIBA Scientific能够提供拉曼系统与原子力显微镜联用——几乎所有厂家生产的原子力显微镜都可以和我们的拉曼系统联用。
底部耦联拉曼-AFM和TERS
共轴倒置显微镜配置非常适合于透明样品：可以对共焦拉曼和荧光光谱成像使用高数值孔径（NA）的物镜，包括油镜。
顶部空间可自由进行SPM实验，包括原子力显微镜（AFM）、扫描隧道显微镜（STM）、光纤引入近场光学技术（SNOM、NSOM）和其他在空气、液体或特殊环境下常用的SPM模式。
这种配置可以实现SPM和共焦拉曼成像同步扫描，并且可以使透明样品的针尖增强拉曼散射（TERS）性能达到。
顶部耦联拉曼-AFM和TERS
当使用倾斜针尖或透明探针时，顶部耦联允许SPM和光谱测量（包括TERS）同步进行，且可以使用高NA物镜（到0.7NA）。
如果增大探针的选择范围用于SPM成像或者使用高数值孔径的物镜（至0.95NA）用于拉曼或荧光共焦成像，两者还是可以在同一位点实现相继测量。
这种配置适合于不透明样品的高分辨率共点测量，并可用于倾斜针尖和透明玻璃探针的TERS测量。
侧向耦联拉曼-AFM和TERS
侧向耦联是为了满足使用大量不同SPM探针来测定不透明样品的针尖增强（TERS）拉曼实验而设计的。
这个设置是在角度使用了一个高NA长焦物镜（至0.7NA，使到达针尖上的激光束具有合适的偏振方向用于TERS放大，并且能消除扫描探针-针尖的遮蔽以确保收集效率。
这种配置适合于不透明样品的TERS测量。它也可以对AFM和共焦拉曼或荧光成像进行同步测量，但是受固有几何限制的影响，其远场的空间分辨率不及顶部耦联方式。
移动耦联用于相继测量AFM和拉曼
通过一个高度精确的定位平台，将样品从原子力显微镜装置平移到拉曼装置（反之亦然），使经典拉曼和AFM图像在同一样品点上进行测量。可使用同一个软件平台，通过AFM成像找到一个感兴趣的区域做拉曼分析。
AFM-拉曼和TERS的多端口耦联配置
顶部及侧向双端口配置（其中侧向用于优化TERS，顶部耦联用以达到高分辨率远场光谱成像）可以使不透明样品的共点相继测量以及TERS的性能达到。
它还可使用中空悬臂实现近场光学技术（SNOM、NSOM），其中顶部的物镜提供照明，信号强度通过反射模式收集。
顶部及底部双端口配置既可以对透明样品也可以对不透明样品实现TERS和共点测量。它还可以实现透射模式的近场光学技术（SNOM、NSOM）。
三端口配置则将所有配置都优化整合到一个的平台中，以提供最多种优化功能。
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