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技术参数:光谱范围:190-2100 nm8种光斑尺寸: 小35 X 85 um探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见和近红外自动样品台尺寸:200mm X 200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度35mm样品水平度自动调整自动量角器:变角范围35- 90,全自动调整,
技术参数:
·光谱范围:190-2100 nm
·8种光斑尺寸: 小35 X 85 um
·探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见和近红外
·自动样品台尺寸:200mm X 200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm
·样品水平度自动调整
·自动量角器:变角范围35°- 90°,全自动调整,小步长0.01°
主要特点:
·自动化设计,自动对焦、校正
·全新光路、电路设计,测量精度更高,速度更快
·50KHz高频PEM相调制技术,测量光路中无运动部件
·双光栅光谱仪系统,杂散光抑制水平高
·8个尺寸微光斑,可视技术
·自动平台样品扫描成像
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