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上海良允科学仪器有限公司
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LY-DR320固体粉末漫反射率测量系统本系统采用波长连续可调单色光源和积分球整合而成，测试光为垂直光路，样品盛放装置为小型抽屉式样品盒，方便放置粉末类样品，易于替换
LY-DR320 固体粉末漫反射率测量系统
本系统采用波长连续可调单色光源和积分球整合而成，测试光为垂直光路，样品盛放装置为小型抽屉式样品盒，方便放置粉末类样品，易于替换。
技术规格：
■ 光谱测量范围：350-2500nm
■ 光谱分辨率：≤2nm
■ 光谱扫描步距：0.2-10nm可连续设置
■ 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
■ 测量误差：≤1%（紫外-可见区），≤2%（近红外区）
■ 重复性：≤1%
■ 测试光轴与试样夹角：不大于10°
■ 样品尺寸(典型)：≤ Ø10(D) *3(H)(mm)
LY-DR150 平面材料漫反射率与透射率测量系统
本系统结构与LY-DR320相同，但测试光为由下至上8 度角聚焦光路，样品盛放装置为160x160mm平台，方便放置各类平面材料，如各类功能性布料。同时，系统整合透过率测量探测器，可测量厚度为5mm以下的各类透光材料，可将各类透光器件的漫反射率与透过率测量整合成一体。
技术规格：
■ 光谱测量范围：350-2500nm
■ 光谱分辨率：≤2nm
■ 光谱扫描步距：0.2-10nm可连续设置
■ 波长准确度：优于±0.2nm（紫外-可见区），优于±0.5nm（近红外区）
■ 测量误差：≤1%（紫外-可见区），≤2%（近红外区）
■ 重复性：≤1% (450nm-1800nm)
■ 样品尺寸(典型)：直径≥15mm，若同时测试透过率，则样品厚度须＜5mm
除了漫反射测量系统，我司还提供滤光片、光学镜头透过率测量系统等。
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