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南京覃思科技有限公司
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MICROTEST三点弯曲和拉伸/压缩模块专门设计用于在扫描电镜或光学显微镜下观察样品的高应力区。
300N & 2kN 垂直3点和4点弯曲台，用于SEM
MICROTEST三点弯曲和拉伸/压缩模块专门设计用于在扫描电镜或光学显微镜下观察样品的高应力区。Windows软件设置驱动参数，并在PC屏幕上实时显示应力应变曲线。75N到2kN的载荷力传感器覆盖了大多数应用，位移速率从0.05mm/min到5mm/min。特殊的版本可以根据客户的要求定制。所有的模块都由我们的微测试拉伸测试软件控制。
与所有Deben测试模块一样，控制是通过计算机使用MICROTEST测试软件。
在传统的三点弯曲中，试样被支撑在两个外点上，并通过向下驱动第三个中心点而变形。对于扫描电镜的应用，我们已经有反向的技术。
样品位于中心固定点，两个外部点向下驱动。这有两个好处：高应变感兴趣区域位于顶部，便于观看，并保持焦点，因为高度不变。
标准装置的载荷为300N，位移速率从0.05mm/min到5mm/min。高载荷版本也可用于2KN以下的载荷。标准样品宽度为40毫米。顶部和底部钳口（点）可以很容易地改变不同的样品配置，例如允许压痕研究或四点弯曲。
此模块仅设计用于垂直三点弯曲，对于水平三点弯曲，我们建议使用带有可选三点或四点弯曲夹具的拉伸台。
推荐应用：
扫描电子显微镜（SEM）、光学显微镜及原子力显微镜等
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