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三维光学轮廓仪ContourSP

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更新时间：2024-02-21 14:31:32浏览次数：120次

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淘仪贸易有限公司

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产品简介

综合性工业计量，实现快速、高精度的PCB生产控制。独树一帜的系统特征，确保*高的产量，*大的正常运行时间，*低的成本。*高值吞吐量，提供2倍更快的数据，而不影响准确性。

详细介绍

结合了十多年的包装光学特性专门知识，CONTESSP大型面板计量系统使高密度互连PCB(HDI-PCB)基板的测量吞吐量比上一代WLI仪器提高了一倍以上。该系统专门设计用于测量制造过程中PCB面板的每一层，并包含了一系列的功能，为半导体封装行业提供了*大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量。具有量规能力的Confee SP使用了一个直观的生产界面，提供了快速和简单的基准对齐与可配置的用户输入。

不匹配精度

凭借其新的耐振系统设计和砖利的Wyko垂直扫描干涉术(VSI)成像，具有量规能力的Contracesp系统以纳米分辨率执行极其**的三维临界尺寸(CD)测量。这种能力，加上广泛的自动化，使ContracesSP多任务，既是一个强大的表面纹理计量仪器，以及一个易于使用的缺陷检测工具。

流线型操作与分析

Confee SP直观的生产界面提供了快速和简单的基准对齐与可配置的用户输入。除了传递/失败信息之外，用户现在还可以选择详细的参数结果，以便在摘要屏幕上显示。Vision 64软件为工程师、技术人员和操作人员提供了的访问控制，具有简单的协调文件导入功能，保证了系统到系统的配方可移植性和快速文件创建。