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八帆仪器设备有限公司
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校准标样
| Device | Base Price |
| Ultra-High Resolution Soft X-Ray Calibration Standard (70 nm Au) (15 nm half pitch) | USD $5000 |
| Soft X-Ray Calibration Standard (200 nm Au) (20 nm half pitch or better) | USD $4500 |
| Hard X-Ray Calibration Standard (>600 nm Au) (25 nm half-pitch or better) | USD $6000 |
| Features Include: • Nested L’s • Siemen star patterns (large and small) • Varying pitch gratings and meshe • Nano USAF 1951 | |
| Customization | Extra Fee |
| • Custom Logo (Max 50 µm 2 area) | $1000 |
| • Low stress 50 nm silicon nitride membrane | $2000 |
| • Low stress 100 nm silicon carbide membrane | $2500 |
| • Fused Silica Substrate (~500 um thick) Chrome metal on glass (positive tone-only) | $2500 |
| Negative polarity (features transparent) • 30 nm minimum feature size (soft X-ray) • 50 nm minimum feature size (hard X-ray) | $1250 |
| • Custom chip sizes | Contact us |
校准标准在标准的5 mm x 5 mm框架上于坚固的低应力氮化硅膜上制造。 熔融石英基板可用于具有铬特征的光学显微镜。
校准标准在标准的5 mm x 5 mm框架上于坚固的低应力氮化硅膜上制造。
熔融石英基板可用于具有铬特征的光学显微镜
高分辨率ANT徽标，20纳米特征，电镀至200纳米
注：最终设计可能不如图所示。您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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