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涂层测厚仪MiniTest2500/4500

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更新时间：2024-04-22 11:53:23浏览次数：211次

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北京时代锐达科技有限公司

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产品简介

德国EPK(Elektrophysik)公司涂层测厚仪MiniTest2500/4500作为MiniTest1100-4100系列的升级产品，为涂层测量领域的广泛任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项。MiniTest 2500/4500涂层测厚仪具有IP65防护等级，人机工程学设计，高对比度显示屏和背光键盘，以及其他有用的功能。可存储多达200万个测量值，通过USB接口向计算机传输数据。......

详细介绍

功能介绍

	MiniTest2500	MiniTest4500
可存储的读数总数 *大批组数量具有独立校准值的应用程序存储数量具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量	2000000 1 - -	2000000 超过9500 99 99
统计功能(每批组)	kvar, n, max., min.	kvar, n, max., min., CP, CPK
校准	-	如果无基材使用，则通过涂层进行校准(CTC)
补偿功能	-	用于从读数中加/减一个恒定值
极限设置(用户自定义)	-	超出限制时的光信号和声音信号报警
测量单位	μm, mm, cm, mils, inch
接口可升级接口	USB -	USB和蓝牙 4.0 报警输出，脚踏开关触发，RS 232接口
电源/每次更换电池的工作时间	3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)
规范和标准	DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376
显示	53 x 46 mm，带背光
操作温度/存储温度	10 ~60°C / –20 ~ 70°C
尺寸/重量	53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池)，橡胶保护套90g
防护等级	IP 65

可选探头

所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

探头	量程	低端分辨率	误差	*小曲率半径(凸/凹)	小测量区域直径*	小基体厚度*
F05	0-500μm	0.1μm	±(1%+0.7μm)	0.75/5mm	3mm	0.1mm
F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm
F10	0-10mm	5μm	±(1%+10μm)	5/16mm	20mm	1mm
F20	0-20mm	10μm	±(1%+20μm)	10/30mm	40mm	2mm
F50	0-50mm	10μm	±(3%+50μm)	50/200mm	300mm	2mm
N02	0-200μm	0.1μm	±(1%+0.5μm)	1/5mm	2mm	50μm
N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%+1μm)	2.5mm	2mm	100μm
N10	0-10mm	10μm	±(1%+25μm)	25/100mm	50mm	50μm
N20	0-20mm	10μm	±(1%+50μm)	25/100mm	70mm	50μm
N100	0-100mm	100μm	±(1%+0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm
FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
FN1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%+1μm)	平面/6mm	5mm	F：0.5mm/N：50μm
F2HT	0-2000μm	0.2μm	±(1%+1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm

注：	F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能 FN1.6/90为直角探头，用于管内测量 N.08Cr用于测量铜上镀铬。 F2HT为高温探头，有两款，允许在高达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量