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AFM-Raman

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更新时间：2024-02-18 14:12:20浏览次数：253次

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八帆仪器设备（上海）有限公司

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产品简介

AFM-Raman

详细介绍

NTEGRA SPECTRA

纳米领域的跨学科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS

SPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪的集成。由于增强了拉曼散射，因此可以以高达10 nm的分辨率进行光谱/显微镜

技术指标

NTEGRA Spectra-AFM /共聚焦拉曼与荧光/ SNOM / TERS（纳米拉曼）集成：新科学的关键

界面发生变化，当今显微镜领域最激动人心的变化发生在将多种技术连接在一起的地方。NTEGRA Spectra是一个很好的例子，它将原子力显微镜（AFM），共焦拉曼和荧光显微镜的全功能结合在一起，并将扫描近场光学显微镜（SNOM）集成在一个平台上.AFM与共焦拉曼/荧光显微镜的不同配置

立式同时进行AFM-拉曼-TERS *和不透明样品的SNOM成像的配置* TERS：增强的拉曼散射，增强的荧光等

针对同时进行AFM-拉曼-TERS *和SNOM成像的InvertedOptimized样品在透明基质（活细胞，纳米颗粒等）上

侧面照明选项用于促进不透明样品的TERS *测量

光纤扫描近场光学显微镜（SNOM）基于石英纤维的SNOM技术。

悬臂扫描近场光学显微镜（SNOM）基于带孔悬臂的SNOM技术。

原子力显微镜（30种模式）
共焦拉曼/荧光/瑞利显微镜
扫描近场光学显微镜（SNOM / NSOM）
针对增强拉曼光谱和荧光（TERS，TEFS，TERFS）和散射SNOM（s-SNOM）进行了优化

所有可能的激发/检测和TERS几何形状的解决方案

工作原理模式：

模式

AFM（机械，电气，磁性，纳米操纵等）
白光显微镜和共聚焦激光（Rayleigh）成像
共焦拉曼成像和光谱学
共聚焦荧光成像和光谱
扫描近场光学显微镜（SNOM）
增强拉曼和荧光显微镜（TERS，TEFS，TERFS）

受控环境：

温度
湿度
气体
液体
电化学环境
外磁场

规格书

共焦拉曼/荧光显微镜
AFM / STM：与光谱集成
软件
光谱学
扫描近场光学显微镜（SNOM）
针对针尖增强拉曼散射（TERS）和其他与针尖相关的光学技术进行了优化
（S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）

共焦拉曼/荧光显微镜

共聚焦拉曼/荧光/瑞利成像与原子力显微镜同时运行（一次样品扫描）
衍射极限空间分辨率：XY 200 nm，Z 500 nm（带浸没物镜）
真正的信仰软件上的按钮可控制电动共焦针孔，以获得信号和共聚焦
电动可变扩束器/准直器：针对每个激光器和所使用的每个物镜分别调整激光束的直径和准直度
具有强大图像分析功能的全3D（XYZ）共焦成像
高光谱成像（在1D，2D或3D共聚焦扫描的每个点记录完整的拉曼光谱），并进行进一步的软件分析
光学光刻（矢量，光栅）

AFM / STM：与光谱集成

垂直和倒置光学AFM配置（分别针对不透明和透明样本进行了优化）；
侧面照明选项
分辨率（数值孔径）光学元件与AFM同时使用：立式0.7 NA，倒置1.3-1.4 NA
同时获取AFM / STM和共焦拉曼/荧光图像（一次扫描）
支持所有标准SPM成像模式（30种模式）-与共焦拉曼/荧光结合
低噪音AFM / STM（原子分辨率）
由于光学AFM头的特殊设计，可将源自光学显微镜主体的振动和热漂移降至
聚焦跟踪功能：由于AFM Z反馈，样品始终保持聚焦；可以获得非常粗糙或倾斜样品的高质量共聚焦图像

软件

AFM和拉曼的无缝集成；所有AFM / Raman / SNOM实验以及进一步的数据分析均在同一软件中进行
1D，2D和3D高光谱图像的强大分析
强大地导出到其他软件（Excel，MatLab，Cytospec等）

光谱*

520毫米长的高效光谱仪，带4个电动光栅
可见，紫外和红外光谱范围
埃歇尔光栅具有超高色散；光谱分辨率：0.007 nm（<0.1 1="">
最多可以安装3个不同的探测器
TE冷却（低至-100ºC）的CCD摄像机。EMCCD摄像机是可选的—用于超快成像
光子计数模式下的光子倍增器（PMT）或雪崩光电二极管
用于快速共聚焦激光（Rayleigh）成像的光子倍增器
激发和检测通道中的柔性电动偏振光学器件，交叉偏振拉曼测量
只需单击几下鼠标，即可在不同激光器之间实现全自动切换

扫描近场光学显微镜（SNOM）*

支持两种主要的SNOM技术：（i）基于石英纤维探针，（ii）基于硅悬臂探针
支持的所有模式：传输，收集，反射
检测到所有SNOM信号：激光强度，荧光强度，光谱学
SNOM光刻（矢量，光栅）

针对增强拉曼散射（TERS）和其他与相关的光学技术（S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）进行了优化

所有现有的TERS几何形状均可用：从底部，顶部或侧面照明/收集
可以使用不同的SPM技术和TERS探针：攻丝和剪切力模式下的STM，AFM悬臂，石英音叉
双重扫描（用于TERS中的热点映射）：按样本扫描，按笔尖/激光点扫描
电动偏振光学元件可为TERS产生偏振

AFM-拉曼测量可以在空气，受控气氛或液体中进行-所有温度都可变（适用于倒置配置）

列出的某些功能是可选的-基本系统配置中未包含

关键词：共聚焦显微镜光谱仪显微镜荧光显微镜近场光学显微镜

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