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X射线荧光镀层厚度测量仪

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产品型号FT150

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更新时间：2023-02-23 07:22:34浏览次数：207次

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科迈斯科技股份有限公司

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产品简介

FT150伴随光学系的升级

详细介绍

FT150
伴随光学系的升级，实现相比以往机型更高的灵敏度
对应nm级Au镀层及数十nm Pd镀层测量效率提升2倍以上
FT150L
对应600 mm×600 mm 大型线路板
配备防X射线泄漏的封闭结构样品室
FT150H
对应微区Sn、Ag等镀层测量
对应陶瓷电子组件端子、Sn-Ag无铅焊锡等

FT150配备新型聚光光学系和更高规格的Vortex检测器，能够得到比以往机型更高强度的X射线荧光。
相比以往机型（FT9500X系列），对应微小金属镀层测量的效率提高2倍以上，在相同的测量时间下能够提高其测量精度。
实现高精度并且高效的测量。

项目	描述
X射线照射方向	上方照射式
上方照射式	Al (13) ~ U(92)
测定环境	大气
Ｘ射线发生部	45kV, 钼Mo 靶材
设计	毛细管聚焦Poly-capillary
管电流	1000μA　可变
X射线检测部	Silicon Drift Detector (SDD)
测定面积	φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
样品面积	长400mm、宽300mm、高200mm
电动XY样品台驱动移动范围	400×300mm
CCD Camera	1百万相数
对焦模式	雷射自动对焦
测量模式	Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法
选配	FT150H : 钨W target FT150L : 钼Mo target