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25DL超声波测厚仪

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25DL超声波测厚仪美国泛美25高精度超声波测厚仪可进行**,可靠及高重复性良好的厚度测量.多功能测量型,用于接触测量,延迟测量,及浸入传感器测量.可使用已存贮的,标准的及用户自行设置的探头参数.内部数据存贮器存有5000个数据.PC显示通过选通器可在计算机屏上显示波形及厚度数据.

详细介绍

25DL超声波测厚仪

美国泛美25高精度超声波测厚仪可进行**,可靠及高重复性良好的厚度测量.

多功能测量型,用于接触测量,延迟测量,及浸入传感器测量.

可使用已存贮的,标准的及用户自行设置的探头参数.

内部数据存贮器存有5000个数据.

PC显示通过选通器可在计算机屏上显示波形及厚度数据.

技术资料

测量范围: 钢 0.15-500mm分档

塑料0.08-50mm分档

可根据使用要求选用不同的探头.

声速范围: 508-13998mm/s

测量速度: 每秒1,2,5,10次

分辨率: 0.1mm/0.01mm/0.001mm任选

显示模式: 前,*大,*小值.

25DL型超声波测厚仪：

美国泛美25DL高精度超声波测厚仪可进行**,可靠及高重复性良好的厚度测量.

多功能测量型,用于接触测量,延迟测量,及浸入传感器测量.

可使用已存贮的,标准的及用户自行设置的探头参数.

内部数据存贮器存有5000个数据.

PC显示通过选通器可在计算机屏上显示波形及厚度数据.

配有RS232双向串行接口.

测量范围: 钢0.15-500mm分档

塑料0.08-50mm分档

可根据使用要求选用不同的探头.

声速范围:508-13998mm/s

测量速度:每秒1,2,5,10次

分辨率:0.1mm/0.01mm/0.001mm任选

显示模式:当前,*大,*小值

关键词：超声波测厚仪测厚仪传感器

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