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SD-300i晶片表面缺陷测试仪

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所在地北京市

更新时间:2015-05-20 08:39:21浏览次数:239次

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SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪,实现了缺陷和定向双功能。

 

产品介绍:
SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪,实现了缺陷和定向双功能。
产品特点:
     缺陷和定向双功能
     配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用
     表格和曲线的形式显示,一目了然
     速度快,重复性好
     效率高,数据实时处理
技术参数:
     测试时间:1-2分钟
     重复性精度:≤±5″。
     测角精度为±15
     zui小读数1
典型客户:
中国台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。

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