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CDX-I/CDX-II系列多用磁粉探伤仪

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更新时间：2025-01-02 11:47:27浏览次数：132次

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产品简介

CDX-I/CDX-II系列多用磁粉探伤仪产品概述：便携式交直流低頻磁粉探伤仪对大型工件以及形状复杂零件均用剩磁法和磁轭法,灵敏度高,探伤深度可达　6mm,无需对工件表面作任何处理,即可显示工件缺陷和细小裂纹. 本产品电器元件采用进口元件,密封式插头,具有自动化程度高,操作简便,灵敏度高等特点,保证了产品质量稳定性,安全性,可靠性.功能：便携式结构,可配四种内置照明探头:A(马蹄型),E(旋转型)

详细介绍

CDX-I/CDX-II系列多用磁粉探伤仪

产品概述：

便携式交直流低頻磁粉探伤仪对大型工件以及形状复杂零件均用剩磁法和磁轭法,灵敏度高,探伤深度可达　6mm,无需对工件表面作任何处理,即可显示工件缺陷和细小裂纹. 本产品电器元件采用进口元件,密封式插头,具有自动化程度高,操作简便,灵敏度高等特点,保证了产品质量稳定性,安全性,可靠性.

功能：

便携式结构,可配四种内置照明探头:A(马蹄型),E(旋转型),D(磁轭),O(环型线圈)

应用：对各种大型特大型及形状复杂零件的局部探伤,检测各种零件的表面及近表面因铸造淬火加工疲劳运行等原因产生的细小缺陷裂纹.

功能特点

1:磁场穿透深度大于等于6mm;

2:灵敏度高,剩磁法和磁轭法,15/50试片清晰显示.

3:适用多种磁粉操作,无需退磁.

4:携带方便,适用于现场操作.