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QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司
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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。
日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列销售量超过300台，广获科研及工业用户的赞誉，成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。
与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
ZEM-d测量原理
现存测试方法 |
ZEM-d（厚度方向测量） |
电阻率测量原理
塞贝克系数测量原理
ZEM-d技术参数
测量参数 塞贝克系数，电阻率
温度范围 可达200℃（样品表面）
样品尺寸 截面：Φ20mm（Max），长度：0.01-20mm
测量氛围 空气或惰性气体
软件界面
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