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磁性材料镀层测厚仪

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产品型号Thick800A

品牌

厂商性质生产商

所在地深圳市

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更新时间：2024-05-13 11:04:26浏览次数：28次

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手持式镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪

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ROHS分析仪器厂家

经营模式：生产厂家

商铺产品：116条

所在地区：广东深圳市

联系人：杨经理（销售经理）

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产品简介

磁性材料镀层测厚仪是国内的分析仪器厂家，公司主营产品X荧光检测仪具有快速、准确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（钢铁、有色金属）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

详细介绍

磁性材料镀层测厚仪测试步骤

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：用户使用“Administrator”，密码：skyray2.进入测试软件后，选择“测试条件”点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）3.选择“工作曲线”如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推4.放入“Ag片”对仪器进行初始化初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。5.待测样品测试放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。6.测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。

磁性材料镀层测厚仪技术参数

1 分析元素范围：S-U2 可分析多达3层以上镀层3 分析厚度检出限达0.02μm4 多次测量重复性可达0.05μm5 定位精度：0.5mm5 测量时间：30s-300s

6 计数率：1000-8000cps

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

镀层厚度分析；

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测；

合金成分分析；

7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。

天瑞仪器92年就开始做光谱仪，经过多年的积累，在镀层厚度检测方面，我们一直保持国内：主要原因是我们的性价比与售后服务具有很强的竞争力，这个优势不仅仅体现在购买价格上，也体现在产品生命周期花费的总体成本上。Thick600镀镍测厚仪是天瑞仪器价格zi优的镀层测厚仪；仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。

厂家优势 天瑞公司有完善的质量管理体系，从进口核心零部件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，进行产品质量的管理，每道工序进行严格的检验，绝不允许不合格的流到下到工序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量可靠，用户使用放心。

性能优势

下照式：可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片手动切换：不同样品材质用不同的准直器移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

硬件配置

1. 探测器2. 高、低压电源3. X光管 4. MCA多道分析器5. 高精密摄像头6. 移动平台（自动）7. 准直器8. 标准样品

厂家介绍

天瑞仪器是国内的分析仪器厂家，公司主营产品X荧光检测仪具有快速、准确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。