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北京爱万提斯科技有限公司--Avantes
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薄膜测量该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从10nm到50μm，分辨率可达1nm，测量范围从紫外/可见到近红外（200-1100nm）
该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。
半导体工业
太阳能电池板
镀膜
AvaSpec—Thin Film
光谱仪 | AvaSpec-ULS2048CL-EVO | Grating UA (200-1100nm) OSC-UA |
光源 | Avalight-DHc | PS-12V/1.0A |
光纤 | FCR-7UVIR200-2-ME | |
附件 | THINFILM-STAGE 支架和标准板 |
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