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江阴韵翔光电技术有限公司
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ATR元件
ATR元件
Tydex为全内反射测量提供了各种衰减全反射（ATR）元件。通常，当样品难以用透射进行分析时，使用反射光谱学。顶空ATR系统应用于凝胶，薄膜和细粉分析。用不同的顶空ATR系统分析难以处理的易挥发或对空气敏感的样品。它们也用于提供温度敏感性分析和聚合物膜迁移，以及表面定向和反应动力学研究。单反射ATR系统用于高吸收和小样本进行静态或流动分析。
当红外辐射进入折光指数较高，透射性较好的材料时发生内部反射。 如果入射角超过临界角（方程1），则能量被与晶体紧密接触的样品吸收。
公式 1全内反射的条件。
其中n1，n2 - 两种介质的折射率。
如果系统使用多个反射附件，仪器的光束反复反射，并且每次反射都会吸收一些能量。当光束离开晶体并到达检测器时，它包含来自样品的光谱数据。其结果是可以记录吸收光谱。
以下因素影响ATR谱：
•入射光的波长;
•样品和ATR晶体的折射率;
入射角度
•晶体与样品接触的效率。
ATR晶体由足够硬的材料制成，具有高折射率，并且晶体被配置为允许内部反射。样品与ATR晶体保持接触，并记录光谱作为晶体透射曲线和样品吸收曲线的叠加。
图1通过ATR元件的光传播。
Tydex提供几种几何形状的定制ATR组件：梯形，平行四边形，杆和半球。 使用各种材料：ZnSe，Ge，Si和蓝宝石。 所有材料和产品均符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求以及规格控制。
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