CPU芯片组测试 冷热冲击试验箱 返回列表页

CPU芯片组测试 冷热冲击试验箱

应用领域

• 电子产品研发与生产：在CPU芯片组的研发和生产过程中，冷热冲击试验箱可模拟各种温度环境，检验芯片组在不同温度条件下的性能表现，确保其在实际使用中的稳定性和可靠性，如手机、电脑等电子产品中的CPU芯片组.

• 汽车电子领域：汽车在不同季节和地区行驶时，其电子控制系统中的CPU芯片组会面临较大的温度变化。通过冷热冲击试验，可验证芯片组是否能在这种复杂的温度环境下正常工作，保障汽车的安全性和可靠性.

• 航空航天领域：航空航天器在飞行过程中，CPU芯片组会遭遇温度变化。使用冷热冲击试验箱进行测试，可筛选出适应环境条件的芯片组，为航空航天器的安全飞行提供有力保障.

CPU芯片组测试 冷热冲击试验箱

节能设计

除了充分考虑制冷机组的保护、运用各环节外，同时采取了多重节能措施:如:制冷系统的制冷量调节、气液旁路调节、蒸发温度调节等，在任何低温温度点恒温时，无需加热平衡，运行功率可降低至一半，使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。

使用注意事项

• 样品放置：需确保CPU芯片组样品在试验箱内放置稳固，避免在温度冲击过程中发生位移或晃动，影响测试结果的准确性。

• 预热与预冷：在进行温度切换时，应充分进行预热和冷却，防止温度突变对测试结果产生影响，同时也有助于保护试验箱的制冷和加热系统.

• 安全操作：严格按照设备的操作手册进行操作，注意设备的正常工作状态，避免因误操作导致设备故障或安全事故的发生.