电子芯片检测高低温冷热冲击试验箱 返回列表页

电子芯片检测高低温冷热冲击试验箱

箱体

1. 外壳材质

• 外壳采用优质冷轧钢板制作，表面经过防锈处理和静电喷塑工艺，不仅美观大方，而且具有良好的耐腐蚀性，能适应不同的实验室环境。

2. 内箱材质

• 内箱使用 SUS304 不锈钢板，这种材料具有良好的耐高低温性能、耐腐蚀性和易清洁性，确保在长期的高低温试验过程中，内箱表面不会因温度变化或试验样品的影响而损坏。

3. 保温材料

• 箱体中间填充高效保温材料，如聚氨酯泡沫，其导热系数低，能够有效减少热量传递，保证试验箱内的温度稳定，同时也有助于降低能耗。

电子芯片检测高低温冷热冲击试验箱

箱体结构：

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

技术参数

（一）温度范围

1. 高温区

• 高温范围一般可达 + 150℃至 +200℃（可根据用户需求定制），能够满足大多数产品的高温测试要求，例如模拟电子设备在高温环境下的工作状态，检测其性能是否稳定。

2. 低温区

• 低温范围通常为 -40℃至 -60℃，可以模拟产品在寒冷环境中的使用情况，如汽车零部件在极寒天气下的性能测试。

（二）温度波动度

• 温度波动度控制在 ±0.5℃以内，通过好的温度控制技术和高精度的温度传感器，确保试验过程中温度的稳定，为产品测试提供精准的温度环境。

（三）温度均匀度

• 温度均匀度在 ±2℃以内，这得益于合理的风道设计和高效的风冷系统，使得箱内各个位置的温度差异较小，保证放置在不同位置的试验样品都能在相同的温度条件下进行测试。

（四）冷热冲击转换时间

• 冷热冲击转换时间短，能够在数分钟内（如 3 - 5 分钟）完成从高温到低温或从低温到高温的快速转换，这种快速的温度变化可以有效模拟产品在实际使用中可能遇到的温度冲击情况。