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安柏来科学仪器(上海)有限公司
美国博曼(Bowman)BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便,在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。
● *的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
● 显著提高X射线信号强度
● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
● 小于100um直径的测量斑点
● 经过验证,接近*的测量精度
应用领域:
常见的镀层应用:
PCB行业
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半导体行业
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
线材
Sn/Cu
珠宝、贵金属
10,14,18Kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等
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