镀层测厚仪 返回列表页

天瑞仪器镀层测厚仪广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量*的检测仪器。下面，我们来看看天瑞仪器镀层测厚仪的分类方法。
    根据测量原理一般有以下五种类型：
    1、磁性测厚法
    适用导磁材料上的非导磁层厚度测量，导磁材料一般为钢、铁、银、镍等，这种方法测量精度高。
    2、涡流测厚法
    适用导电金属上的非导电层厚度测量，这种方法较磁性测厚法精度低。
    3、超声波测厚法
    适用于多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合，但是价格较贵，精度也不高。
    4、电解测厚法
    这种方法与上述三种方法不同，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，精度也不高，测量起来较其他几种更为麻烦。
    5、放射测厚法
    这种方法测量昂贵，适用于一些特殊场合。

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。