天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A 返回列表页

天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A产品介绍：

江苏天瑞仪器生产的Thick800A深受需求行业的欢迎，在使用上具有很好的性能，主要用于金属镀层厚度测试，铜镀银厚度，镀锌层测厚。我们一直秉承“为客户创造价值”的宗旨，坚持“全力以赴，客户至上”的工作准则，确保为客户提供产品和的解决方案。

天瑞X-ray荧光镀层测厚仪Thick800A技术参数：

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg