天瑞镀层测厚仪包金鉴定仪Thick 800A 返回列表页

天瑞镀层测厚仪包金鉴定仪Thick 800A性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则裂面样品的测试需求

0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被測点

高分辨率探头使分析结果更加准破

良好的射线屏蔽作用

测试高度敏感性传感器保护

仪器配置

开放式样品腔

高低压电源

双激光定位装置

X光管

钳玻璃屏蔽3!

高度传感器

SDD探测器

保护传感器

信号检测电子电路

计算机及喷墨打印机

二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动

天瑞镀层测厚仪包金鉴定仪Thick 800A技术参数

元素分析范围：硫~铀

一次可同时分析：多24个元素，5层镀层

分析含量：2ppm~99.9%

镀层厚度：50師以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

仪器尺寸：576 (W) x495(D)x545(H)mm

相巨独立的基体效应校正模型

多变宣非线性回收程序

温度适应范围：151~30笆

电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

重量：90kg