天瑞仪器电镀膜厚测试仪 返回列表页

天瑞仪器电镀膜厚测试仪可以满足0到50微米之间的深槽测试，采用变焦技术可以快速分析金属镀层厚度结果。XYZ轴可以自由移动，通过激光定位以实现连续测试功能。

无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和检，都能提供友好的操作体验和的测试效果。天瑞仪器是内生产x射线镀镍层测厚仪的专业厂家，thick800a是利用新代光管发射和探测技术，结合天瑞多年的x射线光谱分析仪生产技术，创造的运用了数字多道分析系统，从而设计的光谱测厚器。X射线荧光镀层检测技术的应用大大提高了批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。采用的FP软件算法，即使在无镀层标样的情况下也可以测直接试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。开放式样品腔设计，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。天瑞仪器电镀膜厚测试仪设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安高于标GBZ115-2002要求。 软件操作具有操作人员分级管理权限，般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。