电镀层膜厚分析仪THICK800A 返回列表页

电镀层膜厚分析仪THICK800A根据测量原理般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低
3.超声波测厚法:目前内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但般价格昂贵\测量精度也不高.
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(般在10万RMB以上),适用于些特殊场合.
镀层测厚仪覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。镀层测厚仪这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
镀层测厚仪随着技术的日益，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
电镀层膜厚分析仪THICK800A采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。