下照式X光金属镀层检测仪 返回列表页

下照式X光金属镀层检测仪广泛应用于金属镀层（镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯……）厚度分析的款仪器；是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，价格优的金属电镀层厚度检测仪。

下照式X光金属镀层检测仪镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3 库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

检测样品

日常家电，如电冰箱，洗衣机，微波炉，空调，吸尘器，热水器等；家电，如音频、视频产品，DVD，CD，电视接收机，IT产品，数码产品，通信产品等；电动工具，电动电子玩具医疗电气设备,五金卫浴，高压开关、电子连接器，使用的电力，包括小型和大型家电，IT和电信设备和消费品，如收音机，电视机，摄像机和音响系统，PCB线路板、电路板等。

技术指标

1.型号：THICK600镀层检测光谱仪，测厚仪

2.分析范围： Ti-U，可分析高3层15个元素

3.分析厚度：般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

4.工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）

5.测量时间：40秒（可根据实际情况调整）

6.探测器分辨率：（160±5）eV

7.光管高压：5-50kV

8.管流：50μA-1000μA

9.环境温度：15℃-30℃ ，环境湿度：30%-70%

10.准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm

11.仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

12.仪器重量：30kg

仪器硬件配置                                       

1 探测器

1.1. 电制冷半导体探测器分辨率：160±5电子伏特；

1.2. 对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,放大。

   2 光管

2.1. 使用寿命大于2万小时；

2.2. 产生X射线激发样品。

3 高、低压电源

3.1. 管压：5KV～50KV，管流大为1000uA；

3.2. 为X光提供专用电源。

4 放大电路:                              

4.1.对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机。

5 高清晰摄像头

        5.1试样观察；

6 移动平台（自动）

        3.6.1样品微调移动平台，样品测试位置性。

7 样品腔

8 准直器

9 标准样品（欧盟标样）：

11.1 0＃标样、塑胶标样、银校正片各片。

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