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分立器件间歇寿命IoL功率老化

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参考价:99

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产品型号
长禾CNAS
品牌
其他品牌
厂商性质
生产商
所在地
西安市

规格

1 99元 999件可售

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更新时间：2025-05-07 09:58:40浏览次数：93次

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西安长禾半导体技术有限公司

经营模式：生产厂家

商铺产品：20条

所在地区：陕西西安市

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产品简介

加工定制	是

分立器件间歇寿命IoL功率老化
功率器件参数验证与二次筛选测试：保障器件性能稳定，助力客户优化供应链质量控制。
车规级元器件检测：针对新能源汽车，提供符合严苛车规标准的功率器件筛选与可靠性验证，助力行业客户突破核心技术瓶颈。
环境与老化实验：模拟特殊环境下器件工作状态，确保产品在复杂工况中长期可靠运行。
失效分析及可靠性评估：快速精准定位元器件失效根因，为产品改进和技术迭代提供有力支撑。

详细介绍

分立器件间歇寿命IoL功率老化-第三方检测中心

高温反偏试验（HTRB）

执行标准：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJED-4701100、AEC-Q101, 。

试验对象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模块；

试验能力：温度 150℃；电压 5000V；

高温栅偏试验（HTGB）

执行标准：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、。

试验对象：MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模块；

试验能力：温度 150℃；电压 100V；

高温高湿反偏试验（H3TRB）