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广州沪瑞明仪器有限公司
测量范围 | X3PCSR | 测量精度 | 可见分光光度计 |
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加工定制 | 否 |
X3PCSR可见分光光度计(透射/反射测量) 研究领域以及光学器材制造、镀膜行业、宝石业、化学工业、冶金工业等企业事业单位进行快速检测和精确分析
X3PCSR可见分光光度计(透射/反射测量.狭缝可变扫描型)
X3PCSR |
·过去您可能为昂贵的投入怯步,您可能为复杂的操作烦恼,现在所有难题X3PCSR光谱反射仪都解决了……
·作为一种可见光谱反射仪,X3PCSR可广泛地用于光学、眼镜片、手机摄像头、手机触摸屏、化学、机械等科学研究领域以及光学器材制造、镀膜行业、宝石业、化学工业、冶金工业等企业事业单位进行快速检测和精确分析。
·无论您工作在那个行业,都能得到一份“上海析谱"精心为您设计的解决方案! X3PCSR的研发团队,测试数据跟岛津、日立等进口昂贵的设备相媲美。国内镀膜企业产品 测试数据可保存,可导出,可组合等。
(透射测量,反射测量2套软件2套附件),满足不同行业的需求.
详细参数:波长范围:325-1100nm光谱带宽:5/1/2/4nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光度准确度:±0.5%T
光度重复性:0.2%T
杂散光:0.1%T(220/340nm处)
稳定性:±0.001A/h(500nm处)
显示方式:液晶显示器PC工作站
最小分辨率0.1nm
吸光度范围:-0.3-3.0A,0-200%T
检测器:进口硅光二极管
光源:进口品牌钨灯
键盘:触摸式按键
数据输出:RS-232标准接口 /USB接口
打印输出:并口
电源:AC 90-230V/50Hz 或 /60Hz
仪器尺寸:470*380*200mm
机重量:14kg
透射测量图谱(光谱扫描)325-1100nm
反射测量图谱(镀膜剩余反射)(325-1100nm)
X3PCSR可见分光光度计(透射/反射测量)反射率图谱
反射图谱
X3PCSR可见分光光度计(透射/反射测量)仪器配置:
光谱分析家软件 透射测试 壹套;
光谱分析家软件 反射测试 壹套;
反射附件 壹套;
透射测试架壹套;
随机资料壹套;
数据线 电源线各壹套;
基准片2片(低反+高反)
可另配转角度反射附件(测试棱镜等附件)
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