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公司动态
全国显示计量与测试技术研讨会召开 聚焦光学计量
点击次数：598 发布时间：2016-10-28
2016年10月19日，由中国计量测试学会光辐射计量专业委员会、国防科技工业光电子一级计量站、中国计量科学研究院光学与激光计量科学研究所等单位主办的2016全国显示计量与测试技术交流研讨会在山东青岛召开。
会议由光辐射委员会主席林延东研究员致大会开幕词，会议邀请了美国国家标准与技术研究院NIST研究员John Penczek博士、中国计量科学研究院陈赤研究员、东南大学李晓华教授等国内外光显示计量与测试领域的专家和学者到会并做专题讲座，与会代表就光显示计量测试技术的研究成果进行了讨论和分享。
IEC TC110标准项目组长、浙大三色标准化专家李俊凯受邀作了“新型显示测试技术和标准”主题报告。他向与会代表介绍了浙大三色公司在IEC TC110电子显示标准化技术委员会中牵头制定的8项标准的进展情况，并就当前显示领域关注的激光显示、AR/VR等新型显示器件的光学性能和图像评测标准化思路、相关测量技术做了进一步的介绍。