X 射线荧光测试仪，涂层测厚仪d3，配有多毛细孔 X 射线光学系统，电镀层测厚仪，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。
XDV-u镀层厚度测量仪特点
- 优化的微区分析测试仪器
- 根据X射线光学系统，涂层测厚仪 epk，可以对100 μm或更小的结构进行分析
- *的能量强度，穿透涂层测厚仪，从而实现出色的精度
- 即使对于薄镀层，指针涂层测厚仪，测量的不确定度也有可能做到 < 1 nm
- 只适用于平面的或是接近平面的样品
- 底部C型开槽的大容量测量舱
- 通过快速、可编程的 XY 工作台进行自动测量
XDV-u镀层厚度测量仪典型应用领域
- 测量印刷线路板、引线框架和芯片上的镀层系统
- 测量细小部件和细电线上的镀层系统
- 分析微小结构和微小部件的材料成分
