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金属钨的逸出功测定仪

时间:2019/8/27阅读:723
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金属钨的逸出功测定仪 型号: WY-Ⅰ  
用途和目的: 
* 了解理想二管的结构和工作原理; 
* 用里查孙直线测定金属材料电子逸出功eΨ(或逸出电位Ψ); 
* 设计性扩展实验测定电子荷质比。 
技术参数及特点: 
* 理想二管 
材料:纯钨丝 
阳电压:DC 0~150V 
灯丝电流:DC 0.5~0.7 
* 阳电压表:量程为0~200V,三位半数字显示; 
* 阳电压稳压源:0~200V连续可调; 
* 灯丝电流表:量程为0~2A,三位半数字显示; 
* 灯丝电流稳流源:0~0.8A连续可调; 
* 阳电流表:量程为0~2000uA,三位半数字显示。 

* 采用国标标准接插件手动连接线路; 
* 设计性扩展实验,测定电子荷质比。

 

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