超声波探伤仪 TOFD探头 超声波检测设备 返回列表页

 超声波探伤仪 TOFD探头技术以一发一收的方式安放一对探头，通常为纵波探头，纵波的反射角范围是45°至70°。通过接收探头接收衍射信号，并使用可以生成B扫描图像的超声波图像系统进行评判。

        超声波探伤仪 TOFD探头技术应用中可以使用单一探头，但并不推荐这样使用，因为使用单探头时返回探头的衍射波信号很可能被缺陷的反射波掩盖，导致单探头系统对端点衍射信号接收存在不确定性。使用两个探头配对组成一发一收的双探头系统，则可以避免镜面反射信号对衍射波信号的干扰，从而在任何情况下都能很好的接收到缺陷端点衍射波的信号。另外还容易实现大范围的扫查，快速接收大量的信号。因此，双探头扫查系统可以说是TOFD技术的基本配置和特征之一。

TOFD探头配合相应的楔块可在钢等被检材料中产生需要的折射纵波，利用这些纵波通过衍射时差技术对材料中的裂纹等缺陷进行定位和定量检测。探头采用高性能复合材料制作，-20dB的脉冲周期严格控制在两个周期内，频率范围覆盖2.0MHz到15MHz，晶片尺寸从直径14mm到直径3mm不等。同时提供各种非常规规格的TOFD探头定制，以适应客户不同的匹配楔块材料，螺纹配合以及尺寸大小等特殊要求。

TOFD探头配合相应的楔块可在钢等被检材料中产生需要的折射纵波，利用这些纵波通过衍射时差技术对材料中的裂纹等缺陷进行定位和定量检测。探头采用高性能复合材料制作，-20dB的脉冲周期严格控制在两个周期内，频率范围覆盖2.0MHz到15MHz，晶片尺寸从直径14mm到直径3mm不等。同时提供各种非常规规格的TOFD探头定制，以适应客户不同的匹配楔块材料，螺纹配合以及尺寸大小等特殊要求。