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苏州赛恩斯仪器有限公司
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METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XP系列
METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XP系列
梅特勒XP系列分析天平主要特点：分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元，分析天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●分析天平-XP系列分析天平
●分析天平--XP系列分析天平天平校验功能（BalanceCheck），分析天平自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，分析天平确保称量结果始终准确
●GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保分析天平始终正确工作
●优化分析天平-XP系列分析天平适应性的称量参数设置，分析天平满足不同称量环境要求
●分析天平--XP系列分析天平*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现分析天平的快速清洁
●分析天平--XP系列分析天平丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
水平控制系统（LevelControl）：分析天平-XP系列分析天平在使用过程中或移动后偏离水平位置影响到称量结果的准确性时，分析天平控制系统会发出声音警告，并显示调整信息，分析天平准确地指导您调节分析天平恢复至分析天平的水平位置。
红外感应器（SmartSens）：分析天平实现无需用手接触的分析天平操作：开关门、去皮、回零、打印。即使称量毒性或腐蚀性样品，您也一样安全无忧！
专业级全自动校准技术（proFACT）：分析天平-XP系列分析天平实现温度漂移和用户时间设置触发的全自动内置砝码校正和线性校正。
梅特勒分析天平-XP分析天平主要特点：分析天平-XP分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元，XP分析天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响，分析天平确保分析天平-XP系列分析天平始终正确工作
分析天平-梅特勒 XP系列分析天平技术参数
| XP分析天平型号 | 分析天平称量值 [g] | 分析天平可读性 [mg] | 分析天平重复性 （sd）[mg] | 分析天平线性误差 [mg] | 分析天平典型稳定时间 [s] | 分析天平秤盘尺寸 （W×D）[mm] |
| 分析天平XP105DR | 31/120 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78×73 |
| 分析天平XP205DR | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP204 | 220 | 0.1 | 0.007 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP504DR | 101/520 | 0.1/1 | 0.1/0.6 | 0.5 | 1.5 | 78×73 |
DR=变量程；sd=标准偏差
分析天平-梅特勒XP系列分析天平主要特点：XP分析天平采用分离的称量单元和显示控制单元，XP分析天平避免电子元件散热对称量结果准确性的影响，分析天平确保XP系列分析天平始终正确工作
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