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X-4P偏光高倍显微熔点仪

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厂商性质其他

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更新时间:2023-07-21 19:41:23浏览次数:88次

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产品简介

X-4P偏光高倍显微熔点仪用途测定物质的熔点

详细介绍

X-4P偏光高倍显微熔点仪

用途

测定物质的熔点。主要用于液晶、药物、化工、纺织、塑料粒子、染料、香料等晶体有机化合物的测定及显微观察;尤其适用于矿物药或淀粉等带偏光特性物质的观察,在测定物质熔点的同时,可以看到物质偏光特性的变化过程在医学、化工、合成纤维、生物学、矿物学、学等领域均有广泛的应用。

特点

多用性  既可作为微量样品(毛细管法)的熔点测定,切片样品的熔点测定,又可进行生物工程的热力学研究(载玻片—盖玻片,热台法);

偏光装置  可观察物质偏光特性,为药物或淀粉类特别设计 

高倍观察 放大倍数40倍、100倍、200倍;三个倍数可切换使用。

专用摄像通道  X-4P配置三目显微观察筒,选购显微成像系统,可在不影响目视观察的情况下,同时在电视机或显示器上显示图像。

保温罩设计  减少了环境对测试结果的影响

技术参数

 

X-4P

物镜

4X10X20X

目镜

WF10X

光学放大倍数

40X100X200X

显微镜头部

三目头部(方便与计算机或显示器连接成像)

温度显示

最小示值0.1

熔点测量范围

室温至320

测量重复性

±1(小于200时);±2200320时)

选购件

物镜

40X

目镜

WF16XWF20X

成像系统

模拟成像系统、数字成像系统

显示屏

5寸显示屏、10寸显示屏

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