XS3DU梅特勒电子天平/微量天平/电子微量分析天平XS3DU

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能，*基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中*的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

标准配置

XS3DU电子微量分析天平
内置称量应用程序

TouchScreen触摸屏，方便天平称量和参数设置

SmartTrac彩色动态图形显示器：图形称量辅助，跟踪称量范围和公差

可设置多达10个特定功能的快捷键

可定义3个的信息，用于用户和样品标识

内置RS232C和两个辅助接口；用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件，实现无需用手接触的称量操作

第二接口选件插槽；例如LocalCAN，以太网，RS232，MiniMettler，蓝牙或PS/2等接口选件

手动开关门的玻璃防风罩

可更换的显示屏保护盖

下挂钩称量

具有过载保护的称量传感器

XS3DU电子微量分析天平

显示多种质量单位

差重称量应用程序

计件和百分比称量应用程序

统计应用程序

技术指标

极限值
XS3DU电子微量分析天平

XS3DU 双量程

zui大称量值


3.1 g

可读性


0.01 mg

zui大称量值


0.8 g

可读性


0.001 mg

重复性（sd） - 加载处


0.006 mg

- 低加载（加载处）


0.005 mg （0.2 g）

重复性（sd） - 加载处


0.001 mg

- 低加载（加载处）


0.0008 mg （0.2 g）

线性误差


0.004 mg

四角误差（加载处）1）


0.005 mg （2 g）

典型值 4）




典型重复性（sd）


0.0005 mg +1.2 x （10–7）•R_gr

典型微分非线性（sd）


√2x（10-12）g·R_nt

典型微分四角误差（sd）


1.2 x （10–6）•R_nt

典型灵敏度偏移（sd）2）


3 x （10–6）•R_nt

典型zui小称量值* （@ U=1 %, 2 sd）


0.1 mg+2.4 x （10–6）•R_gr

典型稳定时间


< 6 sec

稳定时间


< 10 sec
XS3DU电子微量分析天平
1） 根据OIML R76
2） 在10到30°C的温度范围内
3） *次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4） 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。