X荧光光谱仪EDX660的技术参数:
1、分析范围 :30%---99.99%
2、测量时间 :60---300 秒
3、测量精度 :0.1%---99.99%
4、测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
5、重量 :30KG
6、尺寸 :350*500*400mm
7、X射线源 :X射线光管。
8、探测器 :正比计数管
X荧光光谱仪EDX660的配置：
1、单样品腔
2、正比计数器
3、放大电路
4、高低压电源
5、X光管
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