X荧光光谱仪

X荧光光谱仪EDX3000D的特点：

1.       半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

2.       自动滤光片选择

3.       多种准直器自动自由切换

4.       三重安全保护模式

5.       相互独立的基体效应校正模型

6.       多变量非线性回归程序

7.       样品腔自动开关

8.       软件定位样品平台，最小位移 0.01 mm

9.       自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品

10.    特别开发测量软件，操作界面十分友好

11.    内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品

X荧光光谱仪EDX3000D的技术参数：

1.       元素分析范围从硫(S)到铀(U)

2.       元素含量分析范围为1 PPm到99.99%

3.       RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达1PPM；

4.       测量时间：60-200秒

5.       能量分辨率为155±5电子伏特

6.       管压：5~50KV

7.       管流：50~1000μA

8.       温度适应范围为15℃至30℃

9.       电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

10.    三维自由度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm

11.    一次可同时分析24个元素

12.    重量：110 kg

X荧光光谱仪EDX3000D的配置

1.       移动样品平台

2.       加强金属元素感度分析器

3.       放大电路

4.       信噪比增强器（SNE）

5.       计算机、喷墨打印机